产品展示
产品特征
HIOKI日置1MHz~1.3GHz阻抗分析仪IM7585主要参数：
测量频率 1 MHz～1.3 GHz
测量范围 L：0.0123 nH～0.795 mH
C： 0.0245 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
产品功能
HIOKI日置1MHz~1.3GHz阻抗分析仪IM7585特点：
2种模式测量：LCR模式，分析模式
LCR模式：可将任意频率和电平信号施加到需要测量的元件上进行测量。适用于电容器，线圈等被动元件的评估。
比较测量 以1个判定标准为基础对元件的合格与否进行判断。
BIN测量使用多个判断标准对元件进行划分。
Display显示
检测功能
分析模式：对测量频率，测量信号电平进行扫描的同时进行测量。适用于频率特性或电平特性的确认。
普通/分段扫描 通过扫描频率、电平来观察元件的特性
间隔扫描 固定测试条件下观察元器件在时间变化过程中的特性
多种显示功能
