E1抗干扰开发系统

Langer EMVE1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

E1抗干扰性开发系统产品包含：
1xSGZ 21, 脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器
1xS21, 光学传感器（10 Mbps）
1xBS 02
1xBS 04DB, 磁场源探头
1xBS 05D, 磁场源
1xBS 05DU, 磁场源探头
1xES 00, 电场源探头
1xES 01, 电场源探头
1xES 02, 电场源探头
1xES 05D, 电场源探头
1xES 08D, 电场源探头
1xMS 02, 磁场探头
1xE1 acc
1xNT FRI EU
1xE1 case, System case
1xE1 m, E1系列 用户手册

E1抗干扰性开发系统技术参数：

SGZ 21

脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器

脉冲群发生器SGZ21产生零电势脉冲状干扰信号。它采用电气隔离的对称输出。SGZ21的电流脉冲可以部分地与构件、电缆、屏蔽或者接地系统耦合；可以注入模块，或者间接通过场源耦合进入受测设备。SGZ21内置一个脉冲密度计数器，通过光学输入端口测量模块产生的信号。

S21

光学传感器（10 Mbps）

S21 型传感器是一个数字探头，在猝发序列试验中，无反作用地传递受试设备发出的数字信号。使用时将其固定在受试设备的电路板上，由受试设备供电。数字信号在传感器中被转换为光学信号，并通过光纤传递至接收器或示波器。

 BS 02

BS 04DB 磁场源探头

BS 04DB产生毫米级范围的磁场束特别适用于定位敏感的导线部分、元器件及其连接器件。测试时用场源端部射出的电场束来扫描受试设备的表面。

BS 05D 磁场源

BS 05D产生直径大于3mm的磁场束。磁场线的方向与场源手柄成90°，因此特别适用于定位两个集成电路板之间以及集成电路上很难靠近区域的薄弱点，例如元器件之间的区域。实际应用时，一般应该先用场源BS 02或BS 04DB对薄弱点进行粗略定位，而后再使用BS 05D进行精确定位。

BS 05DU 磁场源探头

BS 05DU产生毫米级范围的磁场束。它的工作原理如同耦合钳，能够将干扰电流有选择地耦合到单个导体、IC引脚、SMD原件以及细线（扁平带状线缆）。

ES 00 电场源探头

ES 00场源可用于产生大面积（150cm²）区域状或线状的耦合电场。有时受试设备的电场敏感点的区域会很大，如LCD显示器及总线系统，其敏感区域可能会达到10〜15厘米。使用如ES 00这样大面积的电场场源，能够测试出这样的薄弱点。ES 00还可用于将干扰电流耦合给模块。

ES 01 电场源探头

该场源探头适合于向5至10厘米范围内的区域状或线状薄弱点施加电场干扰，其范围介于ES 02和ES 00之间。用ES 01还可以将干扰电流耦合给模块。

ES 02 电场源探头

该场源的面积较大，能够大范围地向机箱表面及内部区域、连接件、带导体结构的模块以及集成电路（如总线系统，液晶显示器）等施加耦合干扰电场。该场源的尖端部位，可用于定位对电场敏感的小面积薄弱点（导线、晶振、上拉电阻、IC等）。

ES 05D 电场源探头

该电场场源的探头内有一个狭窄的线状耦合电极，特别适合于向布线、小型元件及其连接器、线缆及单个的SMD元件如电阻和电容等施加电场，同时它还可以用于测量那些单个的接插件或扁平带状电缆的芯线。

ES 08D 电场源探头

电场源ES 08D是一个探针，用于检查集成电路引脚或者布线等的敏感度。检测时，探头的尖端连接到引脚或布线。通过改变SGZ21的脉冲群强度检测引脚的灵敏度。